Detailed sheet
Title
Las microscopías óptica de reflexión y electrónica de barrido como métodos avanzados de análisis para conocer el estado de las geomembranas sintéticas
Authors
Soriano Carrillo, Jesús
Blanco Fernández, Manuel
Garcia Calleja, Miguel Angel
Leiro López, Angel
Mateo Sanz, Beatriz
Aguiar González, Escolástico
Rubin de Félix, Moisés
Lab. Central Estructuras Materiales (CEDEX), Madrid, España
IGS España
Balsas Tenerife (BALTEN), Santa Cruz de Tenerife, España
Area Presas. Minist. Agricultura, Alimentación, Medio Ambiente, Madrid, España
Blanco Fernández, Manuel
Garcia Calleja, Miguel Angel
Leiro López, Angel
Mateo Sanz, Beatriz
Aguiar González, Escolástico
Rubin de Félix, Moisés
Lab. Central Estructuras Materiales (CEDEX), Madrid, España
IGS España
Balsas Tenerife (BALTEN), Santa Cruz de Tenerife, España
Area Presas. Minist. Agricultura, Alimentación, Medio Ambiente, Madrid, España
Source
Ingeniería civil Additional information only to logged users
Date of publication
2013
Subject
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ISSN
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Abstract
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Language (ISO)
SPA Español
Identification ID
URBATERR_ID_UTICYT219479